發布時間:2022-08-30 來源:天銳星通科技 瀏覽:
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相控陣天線測試場的選擇
——天銳星通的七年實踐
● 待測天線復雜:由輻射陣面與(yu)半導體射頻電路、電源系統、數字信(xin)號控制(zhi)系統等(deng)高度集(ji)成(cheng)一體;
● 測試任務量大:需要(yao)將(jiang)頻點、剖面(mian)、掃描角(jiao)度、加權狀(zhuang)態(tai)等測試(shi)(shi)因素排列(lie)組合,每臺(tai)天線(xian)往往有多達數千張方向(xiang)圖的測試(shi)(shi)量;
● 測試項目多:除了輻射方向圖需要(yao)測試(shi),有源部分(半導體集成電路)的(de)性能(neng)、數字控制與供電部分的(de)性能(neng)也需要(yao)一(yi)并測試(shi),如(ru)EIRP值(zhi)、G/T值(zhi)、有源增益、甚至是(shi)ACPR、EVM等指標;
● 測試控制復雜:需要將天線的波束狀態與產品供電(dian)、測量儀(yi)器、轉(zhuan)臺位(wei)置密(mi)切(qie)配(pei)合、同步進行,控(kong)制系統復雜;
● 測試數據龐大:每臺天線測(ce)量得到(dao)的都是海量數據,對數據的處理分(fen)析,對產品參(can)數指標的評估,是一件(jian)費時耗力的大工程(cheng)。
研制歷程
丨近場:多個關鍵性能指標測量難度大
● 收(shou)發隔離(li)、指(zhi)向精(jing)度、EIRP、G/T等“宏觀”性(xing)能(neng)難以測量;
● 功率穩定性、波束切換(huan)時(shi)間等時(shi)效(xiao)性指標難以測量;
● EVM、調(diao)制解調(diao)等不能(neng)實現測量。
要為覆蓋住相控陣無線全目標測式軟件市場需求,“更舉例子地開展測量方法”,2018年初人們又開始搭建遠場測式軟件整體。丨遠場:無法滿足電大尺寸天線測量需求
丨緊縮場:提供面向未來的全能測試環境
關鍵技術特點
丨高精度測試技術
● 高性能反射面設計:采用卷邊(bian)設計,抑制低頻波繞射;采用高精度(du)加工,型面(mian)精度(du)優于20um(實(shi)測為(wei)10.8um),可匹配110GHz以上(shang)頻率(lv)測量;反射面(mian)總體使用效(xiao)率(lv)達到50%~60%,靜區幅度(du)錐削≤1 dB,幅度(du)紋波≤±0.5 dB,相位波動(dong)≤±5°(實(shi)測均優于此標準)。
● 系統自檢功能:通過系統鏈(lian)路自校(xiao)準設計,保障了(le)測試場地的(de)準確可(ke)靠,為EIRP和(he)G/T等絕對測試提(ti)供基礎(chu)。
● 校準補償:通(tong)過安裝誤差補償技術,保障相控陣天線(xian)幅相校準、指向精度等高精度測試(shi)。
● 大數據處理:通過大(da)數(shu)據分析,縮減(jian)測試的波動性,提高制造(zao)測量(liang)一致性水平(ping)。
丨基于硬件觸發的快速測試技術
丨自動化技術
相控陣天線測試場建設建議
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● 建設近場測試系統,用于陣面診斷和三維方向圖測量(研發階段);
● 建設遠場測試系統,用于系統級測試,比如多目標測試,目標移動測試等(研發階段);
● 建設緊縮場測試系統,用于相控陣天線全指標測量,滿足研發驗證為主的測試需求(研發階段);
● 建設半自動化緊縮場測試系統,用于相控陣天線基本指標的快速測量,滿足小批量試制為主的測試需求(試制階段);
● 建設全自動化緊縮場測試系統,用于相控陣天線批量生產測量,滿足大批量生產為主的測試需求(量產階段)。
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